如果n1>n2，則介質(zhì)1相對于介質(zhì)2為光密介質(zhì)，介質(zhì)2相對于介質(zhì)1為光疏介質(zhì)。對于X射線，一般固體與空氣相比都是光疏介質(zhì)。所以，如果介質(zhì)1是空氣，那么α1>α2，即折射線會偏向界面。如果α1足夠小，并使α2=0，此時(shí)的掠射角α1稱為臨界角α臨界。當(dāng)α1<α臨界時(shí)，界面就象鏡子一樣將入射線全部反射回介質(zhì)1中，這就是全反射現(xiàn)象。
HORIZON 配備了12位樣品臺自動測量，創(chuàng)新光學(xué)編碼器的步進(jìn)電機(jī)，角度測量，采用高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器。廣泛應(yīng)用在環(huán)境分析、制藥分析、法醫(yī)學(xué)、化學(xué)純度分析、油品分析、染料分析、半導(dǎo)體材料及核材料工業(yè)分析領(lǐng)域。
全反射X熒光光譜儀主要特點(diǎn)
1、單內(nèi)標(biāo)校正，有效簡化了定量分析，無基體影響；
2、對于任何基體的樣品可單獨(dú)進(jìn)行校準(zhǔn)和定量分析；
3、多元素實(shí)時(shí)分析，可進(jìn)行痕量和超痕量分析；
4、不受樣品的類型和不同應(yīng)用需求影響；
5、液體或固體樣品的微量分析，分析所需樣品量小；
6、優(yōu)良的檢出限水平，元素分析范圍從鈉覆蓋到钚；
7、動態(tài)線性范圍；
8、無需任何化學(xué)前處理，無記憶效應(yīng)；
9、非破壞性分析，運(yùn)行成本低廉。
